鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)計(jì)算機(jī)、計(jì)算器、筆記本電腦等各類橡膠、金屬?gòu)椘存I作耐打擊壽命測(cè)試，尤其適用于計(jì)算機(jī)鍵盤按鍵作疲勞測(cè)試。鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)計(jì)算機(jī)、計(jì)算器、筆記本電腦等各類橡膠、金屬?gòu)椘存I作耐打擊壽命測(cè)試，尤其適用于計(jì)算機(jī)鍵盤按鍵作疲勞測(cè)試。鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)計(jì)算機(jī)、計(jì)算器、筆記本電腦等各類橡膠、金屬?gòu)椘存I作耐打擊壽命測(cè)試，尤其適用于計(jì)算機(jī)鍵盤按鍵作疲勞測(cè)試。鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)計(jì)算機(jī)、計(jì)算器、筆記本電腦等各類橡膠、金屬?gòu)椘存I作耐打擊壽命測(cè)試，尤其適用于計(jì)算機(jī)鍵盤按鍵作疲勞測(cè)試。鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)計(jì)算機(jī)、計(jì)算器、筆記本電腦等各類橡膠、金屬?gòu)椘存I作耐打擊壽命測(cè)試，尤其適用于計(jì)算機(jī)鍵盤按鍵作疲勞測(cè)試。

3、將計(jì)算機(jī)鍵盤置于工作臺(tái)面，用固定夾具按住底座使其牢固，注意夾具盡可能不要干擾測(cè)試；
4、調(diào)整按鍵與測(cè)頭間距，使測(cè)頭和按鍵至合適位置，其位置為測(cè)頭按下時(shí)至行程低點(diǎn)時(shí)按通按鍵為佳；
5、調(diào)測(cè)頭與試件按動(dòng)點(diǎn)之位置；
6、將參數(shù)設(shè)定至所需參數(shù)（設(shè)定方法依售后工程師說(shuō)明）；
7、一切準(zhǔn)備就緒，按下啟動(dòng)鍵，開始測(cè)試，根據(jù)試件所需調(diào)整測(cè)試速率；
8、測(cè)試結(jié)束，取下試件檢定其質(zhì)量；
3、將計(jì)算機(jī)鍵盤置于工作臺(tái)面，用固定夾具按住底座使其牢固，注意夾具盡可能不要干擾測(cè)試；
4、調(diào)整按鍵與測(cè)頭間距，使測(cè)頭和按鍵至合適位置，其位置為測(cè)頭按下時(shí)至行程低點(diǎn)時(shí)按通按鍵為佳；
5、調(diào)測(cè)頭與試件按動(dòng)點(diǎn)之位置；
6、將參數(shù)設(shè)定至所需參數(shù)（設(shè)定方法依售后工程師說(shuō)明）；
7、一切準(zhǔn)備就緒，按下啟動(dòng)鍵，開始測(cè)試，根據(jù)試件所需調(diào)整測(cè)試速率；
8、測(cè)試結(jié)束，取下試件檢定其質(zhì)量；

按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。

計(jì)算機(jī)鍵盤成品測(cè)試:多108支測(cè)頭打擊按鍵,高效率;滿足快速測(cè)試要求:速度連續(xù)可調(diào),快600次/min測(cè)試速率,真正高效;實(shí)時(shí)顯示測(cè)試速率,以提升測(cè)試精準(zhǔn)度;打擊力連續(xù)可調(diào),測(cè)試范圍更寬;所有元器件均為進(jìn)口件,質(zhì)量可靠,耐久使用。

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